1、

Latent damage in n-well diffused resistor under ESD stress

ESD应力下n阱扩散电阻的潜在损伤

互联网摘选

2、
3、

The experimental results of dual emitter ballasting using a complex emitter ballasting resistor which is provided by a diffused silicon resistor and a poly silicon resistor in silicon microwave power transistor are reported.

本文报道了采用多晶硅电阻和扩散电阻组合而成的复合镇流电阻对硅微波功率器件进行二次发射极镇流的实验结果。

互联网摘选

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