Automatic Test Pattern Generation for Multi-Clock Digital System Based on SCCT
基于安全充分捕获技术的多时钟数字系统测试矢量生成
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本文综述近几年来国际上在测试产生方法的研究方面的新进展。
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An efficient algorithm of test pattern generation for MOS circuits with incomplete scan structure
一个有效的不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法
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讨论了组合逻辑电路的故障诊断的方法,故障的类型。
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阐述了一种基于混沌神经网络的自动测试生成(ATPG)算法。
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因此研究多核芯片BIST低功耗测试模式生成和应用,具有十分重要的意义。
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为提高时序电路的测试生成效率,该文提出一种新的基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试矢量生成算法。
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描述一种新的健全高效的测试向量自动生成方法&测试向量生成的可满足性算法。
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设计一种用于IDDT测试的BIST测试向量生成器,它随机产生跳变数为1~2的测试向量对。
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之后,论文采用了一种自顶向下的分步设计方法,针对系统任务及设计平台,对HDTV测试图案信号发生系统的功能,方案设计进行了讨论,并对各子系统功能进行了阐述。
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其中翻转控制块的作用是解决伪随机测试生成与自动测试向量生成器(ATPG)生成的测试向量中有冲突的确定位。
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研究细胞自动机(CA)在超大规模集成电路(VLSI)伪随机测试中作为测试激励的结构和实现方法。
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